Описаие анализатора Fluke Networks OFP2-100-SI INT:
Кабельный анализатор Fluke Networks OFP2-100-SI INT представляет собой рефлектометрический прибор на основе модульной системы Versiv 2, который используется в ходе расширенных сертификационных испытаний одномодовой кабельной инфраструктуры сетей и систем связи. В комплект изделия дополнительно входит USB-микроскоп, позволяющий инспектировать оптические разъемы перед подключением, набор для очистки контактных поверхностей, а также другие аксессуары. Высокая производительность устройства обеспечивается за счет наличия специальных режимов измерений и встроенных аналитических функций, что существенно снижает трудоемкость работ.
Отличительные особенности:
- Широкий динамический диапазон тестера Fluke Networks OFP2-100-SI INT дает возможность выполнять измерения на расстояниях до 130 км с излучателем 1550 нм, а короткая мертвая зона позволяет эффективно распознавать близкорасположенные события: места сварки, разъемы, изгибы волокна и пр.
- Автоматический анализ рефлектограмм, с выдачей результатов в виде наглядной карты и таблицы, обеспечивает простую идентификацию событий и обнаружение неисправностей.
- Высокая точность оценки потерь в проверяемой линии достигается за счет автоматического двунаправленного усреднения.
Характеристики анализатора Fluke Networks OFP2-100-SI INT:
Параметр | Значение | ||
---|---|---|---|
Многомодовый модуль | Одномодовый модуль | Модуль Quad | |
Длины волн | 850 нм +/- 10 нм 1300 нм +35/-15 нм | 1310 нм +/- 25 нм 1550 нм +/- 30 нм | 850 нм +/- 10 нм 1300 нм +35/-15 нм 1310 нм +/- 25 нм 1550 нм +/- 30 нм |
Совместимые типы оптоволокна | 50/125 мкм 62,5/125 мкм | Одномодовый | 50/125 мкм 62,5/125 мкм Одномодовый |
Мертвая зона событий 1 | 850 нм: 0,5 м стандарт 1300 нм: 0,7 м стандарт | 1310 нм: 0,6 м стандарт 1550 нм: 0,6 м стандарт | 850 нм: 0,5 м стандарт 1300 нм: 0,7 м стандарт 1310 нм: 0,6 м стандарт 1550 нм: 0,6 м стандарт |
Мертвая зона затухания 2 | 850 нм: 2,5 м стандарт 1300 нм: 4,5 м стандарт | 1310 нм: 3,6 м стандарт 1550 нм: 3,7 м стандарт | 850 нм: 2,5 м стандарт 1300 нм: 4,5 м стандарт 1310 нм: 3,6 м стандарт 1550 нм: 3,7 м стандарт |
Динамический диапазон 3, 5, 6 | 850 нм: 28 дБ, стандартно 1300 нм: 30 дБ, стандартно | 1310 нм: 32 дБ, стандартно 1550 нм: 30 дБ, стандартно | 850 нм: 28 дБ, стандартно 1300 нм: 30 дБ, стандартно 1310 нм: 32 дБ, стандартно 1550 нм: 30 дБ, стандартно |
Установка максимальной длины | 40 км | 130 км | MM: 40 км SM: 130 км |
Диапазон измерения расстояния 4, 5, 7, 8, 9, 10 | 850 нм: 9 км 1300 нм: 35 км | 1310 нм: 80 км 1550 нм: 130 км | 850 нм: 9 км 1300 нм: 35 км 1310 нм: 80 км 1550 нм: 130 км |
Диапазон отражающей способности 4, 5 | 850 нм: -14 дБ – -57 дБ (стандартно) 1300 нм: -14 дБ – -62 дБ (стандартно) | 1310 нм: -14 дБ – -65 дБ (стандартно) 1550 нм: -14 дБ – -65 дБ (стандартно) | 850 нм: -14 дБ – -57 дБ (стандартно) 1300 нм: -14 дБ – -62 дБ (стандартно) 1310 нм: -14 дБ – -65 дБ (стандартно) 1550 нм: -14 дБ – -65 дБ (стандартно) |
Разрешающая способность пробы | 3 см - 400 см | 3 см - 400 см | 3 см - 400 см |
Продолжительность импульса (номинальная) | 850 нм: 3, 5, 20, 40, 200 нс 1300 нм: 3, 5, 20, 40, 200, 1000 нс | 1310/1550 нм: 3, 10, 30, 100, 300, 1000, 3000, 10000, 20000 нс | 850 нм: 3, 5, 20, 40, 200 нс 1300 нм: 3, 5, 20, 40, 200, 1000 нс 1310/1550 нм: 3, 10, 30, 100, 300, 1000, 3000, 10000, 20000 нс |
Время тестирования (на длину волны) | Автоматическая настройка: 5 с (стандартно) | Автоматическая настройка: 10 с (стандартно) | Автоматическая настройка: MM – 5 с (стандартно) SM – 10 с (стандартно) |
Настройка быстрого тестирования: 2 с (стандартно) | Настройка быстрого тестирования: 5 с (стандартно) | Настройка быстрого тестирования: MM – 2 с (стандартно) SM – 5 с (стандартно) | |
Настройка наивысшей точности: 2 – 180 с | Настройка наивысшей точности: 5 – 180 с | Настройка наивысшей точности: MM – 2 – 180 с M SM – 5 – 180 с | |
Настройка FaultMap: 2 с (стандартно), 180 с (макс.) | Настройка FaultMap: 10 с (стандартно), 180 с (макс.) | Настройка FaultMap: MM – 2 с (стандартно), MM – 180 с (макс.) SM – 10 с (стандартно), SM – 180 с (макс.) | |
Настройка OTDR для центра обработки данных: 1 с (стандартно при 850 нм), 7 с (макс.) | Настройка OTDR для центра обработки данных: 20 с (стандартно), 40 с (макс.) | Настройка OTDR для центра обработки данных: MM – 1 с (стандартно при 850 нм) MM – 7 с (макс.) SM – 20 с (стандартно) SM – 40 с (макс.) | |
Ручная настройка: 3, 5, 10, 20, 40, 60, 90, 120, 180 с | Ручная настройка: 3, 5, 10, 20, 40, 60, 90, 120, 180 с | Ручная настройка: -3, 5, 10, 20, 40, 60, 90, 120, 180 с SM - 3, 5, 10, 20, 40, 60, 90, 120, 180 с |
Комплект поставки:
- Кабельный анализатор Fluke Networks OFP2-100-SI INT
- Базовый блок Versiv с аккумулятором
- Одномодовый модуль OptiFiber Pro OTDR
- Две одномодовые компенсационные катушки SC/LC (9 мкм)
- Одномодовая компенсационная катушка SC/SC (9 мкм)
- Подвесной набор TPAK Fiber
- USB-видеомикроскоп с 4-мя сменными адаптерами
- Два очистителя коннекторов OneClick (1,25/2,50 мм)
- Ручной ремешок
- Плечевой ремешок
- Зарядное устройство переменного тока
- Micro-USB кабель для подключения к компьютеру
- Компакт-диск с программным обеспечением LinkWare
- Компакт-диск с руководством пользователя
- Кейс для переноски
- Сертификат о калибровке и руководство пользователя