Описание металлографических микроскопов:
Металлографические микроскопы осуществляет исследования в отраженном свете металлических микроструктур (шлифов), а также непрозрачных или полупрозрачных материалов.
Относятся к универсальным световым оптическим микроскопам. Могут применять различные виды освещения и контрастирования: тёмное поле, косое освещение, поляризацию и ДИК (самый совершенный метод).
Могут использоваться как самостоятельный оптический прибор, либо входить в цифровой комплекс для более детального анализа объекта с возможностью передачи и сохранения полученных данных на ПК.
Отличительные особенности:
- Анализ зернистости металла (их размер и расположение);
- Анализ неметаллических частиц и фаз в металле;
- Контроль структуры поверхностного слоя (шероховатость и плоскостность);
- Обнаружение различных дефектов;
- Повышенное рабочее расстояние объектива;
- Низкий коэффициент отражения способствует повышенному уровню освещения;
- Эксплуатация без покровного элемента;
- Возможность комплектации поляризатором и анализатором для проведения исследований в поляризованном свете;
- Некоторые модели помимо светового поля способны работать в темном поле.
Области применения:
- Металлургия;
- Минералогия;
- Геология;
- Археология;
- Медицина;
- Микроэлектроника;
- Криминалистика и т.д.
Виды металлографических микроскопов:
В зависимости от расположения объектива, насадки и окуляра по отношению к исследуемому объекту,выделяют прямые и инвертированные металлографические микроскопы.
Впрямыхметаллографических микроскопах окуляр находится над объектом. Универсальны, могут оснащаться объективами (максимальное увеличение 150х), модулями промежуточного увеличения, а также большинством методов контрастирования. Отличаются более низкой ценой (в сравнении с инвертированными), возможностью расширения комплектации, необходимой для заказчика.
Винвертированныхметаллографических микроскопах окуляр находится под исследуемым материалом. Более полный захват поля зрения, исследуемая поверхность находится в одной плоскости. Не требуют дополнительной фокусировки при смещении образца. Идеально подходят для рутинной работы.
Более того, для исследования продукции в сфере микроэлектроники используютинспекционные металлографические микроскопы. Отличаются нижним расположением предметного столика микроскопа, оснащены фокусирующим объективом с высоким линейным увеличением (80-100х), что позволяет добиться полного увеличения 2000х.