МЕТЭК-М Структуроскоп

О товаре

Структуроскоп МЕТЭК-М имеет модернизированное ПО: отображение марки металла или сплава вместо величины термоЭДС. Имеется возможность создания собственной библиотеки соответствия величин термоЭДС и марок материалов посредством подключения к ПК.

Структуроскоп МЕТЭК-М предназначен для сортировки сплавов по маркам, определения процентного содержания компонента в сплаве, определение структуры материала и измерения толщины металлических покрытий.

Технические характеристики

Гарантия (мес.)	18
Метод измерения	Термоэлектрический
Страна производитель	Россия
Вес нетто, кг	0.25
Габаритные размеры, мм	130х66х24

Описание cтруктуроскопа МЕТЭК-М:

Структуроскоп МЕТЭК-М имеет модернизированное ПО: отображение марки металла или сплава вместо величины термоЭДС. Имеется возможность создания собственной библиотеки соответствия величин термоЭДС и марок материалов посредством подключения к ПК.

Отличительные особенности:

Отображение марки материала, в соответствии с записанными значениями термоЭДС в память прибора
Автоматическое определение каждого нового измерения
Контроль температуры горячего электрода и образца
Снижена тепловая нагрузка на руки оператора
Горячий электрод из износостойкого и коррозионностойкого материала
Экспресс-контроль деталей любых размеров без извлечения из изделия

Технические характеристики:

Параметр	Значение
Напряжение питания от сети переменного тока	220 В,50 Гц
Потребляемая мощность, не более	7,5 Вт
Готовность к работе, не более	2 мин
Время анализа одного образца, не более	6 сек
Локальность контролируемого участка	0,5 мм
Температура горячего электрода, не менее	40 град
Температура горячего электрода, не более	90 град
Время непрерывной работы от аккумулятора, не менее	2 ч
Габаритные размеры	130 х 66 х 24 мм
Масса без блока питания	0,25 кг